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90Plus Zeta Zeta電位及粒度分析儀

90Plus Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀，粒度測量采用動(dòng)態(tài)光散射原理，是一種準(zhǔn)確、快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。Zeta電位測量采用電泳光散射原理，帶電顆粒在外加電場作用下進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，電荷運(yùn)動(dòng)使散射光產(chǎn)生頻率漂移（多普勒頻移），采用頻譜漂移分析技術(shù)，從而可計(jì)算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。


工作原理

納米粒度測量部分使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)（Dynamic Light Sacttering， DLS）， 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運(yùn)動(dòng)，使得光強(qiáng)隨時(shí)間產(chǎn)生脈動(dòng)。采用數(shù)字相關(guān)器（digital correlator）技術(shù)處理脈沖信號(hào)，將光強(qiáng)的波動(dòng)轉(zhuǎn)化為相關(guān)函數(shù)。自相關(guān)函數(shù)包含了懸浮顆?；蛘呷芤褐懈叻肿拥臄U(kuò)散速度信息，進(jìn)而利用Stokes-Einstein方程計(jì)算得出粒子的擴(kuò)散系數(shù)和粒子粒徑Rh及其分布：

ZetaPlus電位測量采用電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場作用下進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，電荷運(yùn)動(dòng)使散射光產(chǎn)生頻率漂移（多普勒頻移），采用頻譜漂移分析技術(shù)，從而可計(jì)算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

主要特點(diǎn)：

1、高靈敏性，粒度測量范圍：0.3nm~15μm;

2、插入式電極，耐腐蝕，可重復(fù)使用；

3、可作為在線檢測器與GPC/SEC連接，并通過DLS、光強(qiáng)和粒徑監(jiān)測聚集過程;

4、綜合多種粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度測量軟件;

5、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析功能，可自動(dòng)研究粒度隨時(shí)間、溫度(蛋白熔點(diǎn))以及其他參數(shù)變化的趨勢分析。


典型應(yīng)用：

1、脂質(zhì)體、生物膠體、醫(yī)藥

2、陶瓷、膠乳、乳劑（食品、化妝品）

3、顏料、油墨、炭黑

 

 

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